同時，測量數(shù)據(jù)可分組保存，并實時顯示統(tǒng)計值。用戶可分別為每組設(shè)置上下限報警值、零校準(zhǔn)、多點校準(zhǔn)。全新的多點校準(zhǔn)和零校準(zhǔn)，讓您非常方便的隨時進(jìn)行校準(zhǔn)。標(biāo)準(zhǔn)化菜單，確保您非常容易的使用它。

 

膜厚儀的特點：

A.大點陣液晶屏，標(biāo)準(zhǔn)化菜單操作；

B.兩種測量模式：單次和連續(xù)；

C.兩種組模式：直接組和通用組,一個直接組和四個通用組。直接組關(guān)機(jī)后數(shù)據(jù)自動全部清除。通用組數(shù)據(jù)將自動保存，關(guān)機(jī)不丟失。每組可存儲80個數(shù)據(jù)；

D.可零校準(zhǔn)和多點校準(zhǔn)。各組有單獨的零校準(zhǔn)和多點校準(zhǔn)，組與組之間不影響；

E.用戶可隨時查看當(dāng)前工作組已測得的數(shù)據(jù)，并刪除數(shù)據(jù)或整組數(shù)據(jù)；

F.實時顯示當(dāng)前工作組統(tǒng)計值：平均值,較小值，Max值,標(biāo)準(zhǔn)方差；

G.三種探頭模式：自動、磁感應(yīng)和渦流；

H.可為各組單獨設(shè)置高低限報警值，超*屏幕指示報警；

I.可開啟或關(guān)閉自動關(guān)機(jī)功能；

J.USB接口可傳輸通用組數(shù)據(jù)到計算機(jī)；

K.低電和錯誤提示。

 

膜厚儀可以測量較大5層重疊薄膜的厚度和折射率。

可測量如氧化物，氮化物，光阻，導(dǎo)電玻璃，聚合物和半導(dǎo)體薄膜等透明或半透明薄膜。